K-SMART

FE-SEM/Dual EDS（JSM-7800大気非暴露：JEOL）

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子、透過電子を用いて高分解能で観察することができる電子顕微鏡。低加速電圧高倍測定可能。高分解能。

XPS（ESCA3057特型装置：ULVAC PHI〈アルバック・ファイ〉)

無機固体や高分子などのサンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することが可能。UPS・LEIPS・REELS・GCIB・加熱冷却機構装備。モノクロ光での測定が可能。

触媒評価装置（触媒評価装置BELCAT-A：マイクロトラック・ベル〈日本ベル〉）

触媒評価に必要なTPD、TPR、TPO、金属分散度（金属表面積）、BET１点法比表面積、パルス法化学吸着量測定などの分析が可能。

NMR（核磁気共鳴装置400SS：JEOL）

原子核を磁場の中に入れて核スピンの共鳴現象を観測することで、物質の分子構造を原子レベルで解析するための装置。固体測定が可能。

XRD （全自動多目的水平X線回折装置 Smart Lab: RIGAKU)

高速での高精度なXRD測定が可能です。加えて①粉末測定はもちろんのこと、②薄膜測定(反射率、インプレーン、ロッキングカーブ測定)、③極点・応力測定(反射極点、透過極点、応力測定)、④微小領域測定、⑤小角・超小角測定(透過小角測定、反射小角測定、粒径空孔径分布測定)、⑥昇温XRD測定(大気雰囲気、不活性ガス雰囲気、加湿水素ガス雰囲気)、⑦電池セルin-situ測定など、多様な測定が可能となっております。

レーザーラマン分光光度計（NRS-2100：JASCO〈東京インスツルメンツ〉）

試料にレーザーを照射して、発生したラマン散乱光から物質の種類や状態を調べる装置。3Dラマンイメージングが可能で、最大で275 nm（XY平面）の空間分解能を発揮。カットオフ≤100 cm-1の ロングパスフィルターに加え、低波数ノッチフィルター≤ 10 cm-1 (532 nm用)も搭載しているため、テラヘルツ領域の測定も可能。

ICP（ツインシーケンシャル形 ICPS-8100：SHIMADZU）

高周波誘導結合プラズマを光源とした発光分析法で、溶液試料の元素分析に適している。ツインシーケンシャル型で高分解能測定が可能。

HR-SPM/FM-AFM （高分解能走査型プローブ顕微鏡： SHIMADZU）

先端に据え付けた尖らせた探針を用いて、試料表面をなぞるように動かして表面の凹凸、形状などの表面状態を観察することができる顕微鏡。試料と探針の原子間にはたらく力を検出可能。
薄膜，結晶，半導体，有機材料等の試料に対し，大気中・液中においても真空中と同様の超高分解能で表面観察が可能。

液体クロマトグラフ-質量分析計(XevoG2-S Qtof：Waters)

固定相と液体の移動相との親和性の差を利用して物質を分離し、分離したものを 質量分析器で検出することで定性・定量を行う装置。精密質量測定が可能。

未来型スマートハウス〈2階建て、124m2（延べ床面積）〉

様々なエネルギーデバイスを取り込み、IoT／ICT・AIによる高度なエネルギーマネジメントを行いゼロエネルギーハウスを目指す
（開発された新しいデバイスを組み入れる）

走査電子顕微鏡システム　一式〈日本電子　IT-200〉

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子および特性X線用いて試料形状と元素分布(EDS)を観察することができる電子顕微鏡。　長岡技術科学大学を中心とするコアファシリティ事業において遠隔操作が可能なＴＶ会議システムを付属している。

卓上型走査電子顕微鏡システム　一式〈日本電子　JCM7000〉

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子を用いて試料形状と元素分布を観察することができる電子顕微鏡。　長岡技術科学大学を中心とするコアファイシリティ事業において遠隔操作が可能なＴＶ会議システムを付属している。使用方法が簡便な卓上型電子顕微鏡。

電界放出型走査電子顕微鏡システム　一式〈Zeiss　Ultra-55　(ショットキー型FE電子銃)〉

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子を用いて試料形状と元素分布を観察することができる電子顕微鏡。　低加速電圧高倍測定可能。　長岡技術科学大学を中心とするコアファイシリティ事業において遠隔操作が可能なＴＶ会議システムを付属している。

核磁気共鳴装置 (NMR)〈BRUKER　AVANCE III HD 400MHzマグネット・液体/固体測定可 〉

原子核を磁場の中に入れて核スピンの共鳴現象を観測することで、物質の分子構造を原子レベルで解析する

高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP-AES) SII (現:日立ハイテクサイエンス)　SPS3520UV 水素化物発生装置・オートサンプラー 付属

ICP-AESは高感度・高精度で分析濃度範囲が広いうえ，70種類にも及ぶ元素を分析できる。また，マトリックスの影響が小さく，多元素を同時または逐次分析できる。製品の品質管理のための成分分析や環境分析などに広く利用される。

元素分析装置〈PerkingElmer 2400II　C/H/N/S/O 測定可能〉

固体または液体の有機物試料を燃焼炉で熱分解させ、クロマトグラフィーをとおして、含有量を測定する。 有機化合物の化学式の決定、無機化合物中の元素分析などに広く用いられる。

共焦点レーザー顕微鏡システム　一式〈オリンパス、FLUOVIEW FV10i-DOC〉

励起レーザーを対象に照射し、対象物から放出される蛍光を用いて高分解能で観察することができる共焦点顕微鏡。タイムラプス観察、4レーザーによるマルチカラー分析などが可能。

蛍光分光光度計〈日本分光：FP-8200〉

励起光源を対象に照射し、対象物から放出される蛍光の強度、波長、蛍光の時間変化などを分析することができる蛍光分光光度計。励起波長、測定波長は任意の波長を選択でき、3D蛍光分析による蛍光指紋の分析も可能。

光合成計測器〈EARS社：mini PPM300〉

励起光源を対象（植物や藻類など）に照射し、対象物から放出されるクロロフィル蛍光の変化から光合成パラメーターを分析することができる蛍光光度計。

分光蛍光光度計〈日本分光株式会社：型式 FP6500〉

蛍光物質の定性分析・蛍光寿命等の測定

単結晶Ｘ線構造解析装置〈株式会社リガク：型式 R-AXIS RAPID II〉

単結晶物質の原子配置や構造決定、結晶格子の決定、定性分析

原子吸光分光光度計〈株式会社島津製作所：型式 AA-7000〉

物質を構成する元素の定性・定量分析

卓上走査型電子顕微鏡(遠隔操作対応)〈日本電子株式会社：型式　JCM-7000PLUS〉

走査型電子顕微鏡像を見ながらその場でEDSによって像内の元素分析ならびにマッピングを行うことで構成元素の分布またはコンタミネーション物質の分析や汚染状況を調べる。また、完全または半遠隔操作によって他機関の研究室からパソコン操作が可能になっている。

核磁気共鳴装置〈ブルカー株式会社：型式 Ascend 400〉

分子の構造決定を行う。スピン各種はC、H以外でも対応可能でC-H相関やH-H相関スペクトルによってより正確な構造決定も可能である。

高質量分解能MALDI-TOFMS(遠隔操作対応)〈日本電子株式会社：型式 MALDI: JMS-S3000〉

たんぱく質や高分子などの複雑な高分子量分子の構造解析が可能で、完全または半遠隔操作によって他機関の研究室からパソコン操作が可能になっている。

蛍光Ｘ線分析装置(遠隔操作対応)

波長分散型の蛍光X線分析装置で、物質中に存在する構成元素の定性・定量分析が可能である。また、完全または半遠隔操作によって他機関の研究室からパソコン操作が可能になっている。

天気計〈VAISALA：PWD12（視程2kmまで）SYNOPコード出力可　PWD22（視程20kmまで）SYNOPコード出力可〉

現在の天気（晴れ，雨，霧，雪など）を測定可能． 視程観測も可能．

近接昇華半導体成膜装置〈米倉製作所　IRイメージ炉　IR-VP710　温度制御器　YTC-3045/7Z〉

CdTeなどの化合物半導体の成膜に用います。高温の化合物のソース（CdTe）に、低温の基板を配置し、ソースを昇華させて基板上に堆積させる装置です。この方法は、操作が簡単で低コストという利点があります。

マルチチャンネル分光光度計〈浜松ホトニクス　PMA-11　PMA-50〉

半導体のフォトルミネッセンス測定などに使用します。極低温冷却装置、半導体レーザと組み合わせて使用します。

走査型X線光電子分光分析装置〈アルバックファイ社製　PHI Quantera II〉

固体表面に単色化したAl Kα線の軟X線を照射し、光電効果で励起される光電子の運動エネルギーを分光することでサンプル表面の元素組成並びに化学結合状態を定性・定量分析する装置。特に本装置では10μm程度までX線ビームを走査することができ、2次元方向や同一元素の化学結合状態の違いによるマッピングが可能。

電界放出形走査電子顕微鏡システム　一式〈エリオニクス　ERA-8900FE，EBSD〉

物質の微細構造を調査する装置。物質に物質への電子線照射により二次電子、反射電子を用いて高分解能で観察することができる電子顕微鏡。電子線を照射したときに発生するX線を解析することで微細領域における元素分析や構造解析ができる。EBSDを使うことで微細組織の結晶方位解析ができる。

透過型電子顕微鏡〈日立ハイテク　H-600AB，更新予定あり〉

試料に電子線を照射し、物質の内部の構造を10万倍以上で観察・解析する装置。原子配列の不整や結晶・非結晶の同定、機能性材料の特性解明、不良部位の要因解析やナノ粒子の検出等が可能となり、従来物質の特性改善や新規機能性材料の開発に役立つ装置。原子レベルの超高分解能が必要な場合は九州大学所有機へ橋渡しとなる研究装置。

イオン照射装置〈MB94-5010 ULVAC〉

粉体用イオン注入装置（加速電圧 30kV）

低温プラズマ装置〈ベルジャー型低温プラズマ装置　　外部電極（MVD-400 ULVAC）〉

各種材料表面への低温プラズマ処理

薄膜評価用X線回折(XRD)装置〈SmartLab Rigaku〉

薄膜評価用X線回折(XRD)装置

ガスクロマトグラフィ方式昇温脱離分析装置〈㈱ジェイサイエンス・ラボ：JTF-20ASK〉

電気炉とガスクロマトグラフィが一体となった装置。鋼材中にトラップされた水素をガスクロマトグラフィ中へ放出させ、水素侵入量を測定する。水素侵入量は材料の水素脆化と直結しているので、脆化評価を行うことができる。昇温プロファイルを用いることで、ピーク高さと温度、昇温速度からトラップエネルギーを算出し、鋼材中の水素トラップサイトを推定することが可能である。

顕微ラマン分光分析装置　一式〈顕微ラマン分光分析装置　Horiba　LabRAM HR Evolution 顕微鏡用冷却加熱ステージ　Linkam　10033〉

測定試料から散乱されるラマン散乱光を検出することで、測定試料の構造の同定や物性を評価することができます。本校の装置は、励起レーザーを3本（633nm、457nm、355nm）備えており、様々な材料（半導体や高分子など）の分析が可能です。また、測定試料を加熱しながら、In-situラマンイメージング測定ができる機能もあります。

SEM-EDX/EBSD〈電界放出形走査型電子顕微鏡　JEOL　JSM-7001F エネルギー分散型X線分析装置　Oxford Instruments Aztec energy standard X-act 後方散乱電子回折装置　Oxford Instruments Aztec energy standard Nordlys Nano〉

電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子、透過電子を用いて高分解能で観察することができる電子顕微鏡。元素分析及び結晶方位分析が可能である。