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奈良工業高等専門学校 設備・機器リスト【物質化学工学科C-1】
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奈良工業高等専門学校 設備・機器リスト【物質化学工学科C-1】
物質化学工学科 C-1
「※共通機器管理センター管理」の設備機器についてはリンク先の「機器の予約」からお申込みください。名称
C1:電界放出形走査電子
顕微鏡システム 一式
※共通機器管理センター管理C2:前処理装置 C3:X線回折装置 一式
※共通機器管理センター管理使途等
電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子、透過電子を用いて高分解能で観察することができる電子顕微鏡。低加速電圧高倍測定可能。高分解能。 大気非暴露冷却クロスセクションポリッシャー、貴金属コーター、カーボンコーターなど。FE-SEMでの観察前の前処理装置として幅広い機器を保有しております。 試料にX線を照射した際に、原子の周りにある電子によってX線が散乱、干渉した結果みられる回折の情報を解析し、無機物質の粉末や薄膜、金属部品など多様なサンプルの測定が可能。 画像
名称
C4:周波数変調方式走査型
プローブ顕微鏡 一式
※共通機器管理センター管理C5:X線光電子分光分析装置 一式
※共通機器管理センター管理C6:400MHz核磁気共鳴装置
※共通機器管理センター管理使途等
先端に据え付けた尖らせた探針を用いて、試料表面をなぞるように動かして表面の凹凸、形状などの表面状態を観察することができる顕微鏡。試料と探針の原子間にはたらく力を検出可能。 無機固体や高分子などのサンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することが可能。UPS装備。モノクロ光での測定が可能。 原子核を磁場の中に入れて核スピンの共鳴現象を観測することで、物質の分子構造を原子レベルで解析するための装置。固体測定が可能。 画像
名称
C7:液体クロマトグラフ
質量分析装置 一式
※共通機器管理センター管理C8:高周波プラズマ発光分析装置
※共通機器管理センター管理C9:走査型プローブ顕微鏡 一式
※共通機器管理センター管理使途等
固定相と液体の移動相との親和性の差を利用して物質を分離し、分離したものを質量分析器で検出することで定性・定量を行う装置。精密質量測定が可能。 高周波誘導結合プラズマを光源とした発光分析法で、溶液試料の元素分析に適している。ツインシーケンシャル型で高分解能測定が可能。 先端に据え付けた尖らせた探針を用いて、試料表面をなぞるように動かして表面の凹凸、形状などの表面状態を観察することができる顕微鏡。STM観察など幅広い測定に対応。 画像
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